北京
PART1
研討會基本信息
NI測試測量技術(shù)研討會再次起航，以AI+測試為主題，走遍全國多個(gè)城市，與全國各地朋友相聚，共同探討AI+測試的落地，共贏智能測試的未來。
PART2
為什么參會？
聚焦“測試 + AI”前沿趨勢，探討 AI 如何真正賦能測試開發(fā)流程
深度解析 NI Nigel? AI如何提升 LabVIEW 與 TestStand 的工作效率
分享 PXI 平臺自動化測試方案，加速系統(tǒng)級測試構(gòu)建
多個(gè)專題覆蓋光電、高速 ADDA 等關(guān)鍵測試方向
前沿射頻應(yīng)用方案及案例
現(xiàn)場 Demo 參觀與互動交流，直觀了解方案應(yīng)用場景
PART3
誰適合參加？
測試測量工程師、研發(fā)工程師
工程團(tuán)隊(duì)負(fù)責(zé)人，技術(shù)總監(jiān)
院校及研究所研究人員
LabVIEW愛好者，開發(fā)者
研討會日程
實(shí)機(jī)展示
NI NigelTM AI助手體驗(yàn)
多通道多信號類型數(shù)據(jù)采集與分析框架
通過配置快速完成PXI自動化測試任務(wù)
6G AI 通信開發(fā)平臺
全新軟件定義無線電產(chǎn)品X420
大數(shù)據(jù)量射頻信號高速錄制回放系統(tǒng)
基于 JESD204B 協(xié)議的高速ADC測試方案
DIGILENT工程教學(xué)實(shí)驗(yàn)測量平臺
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